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理化性能测试
理化性能测试
场发射测试系统
发布时间:2010-07-15 | 【
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生产厂家:沈阳惠宇真空
购置日期:2010年
原 值:30万元
主要指标:极限真空:10
-7
Pa;加热温度800℃;最高电压5kV
用 途:测试各种半导体材料的真空电子发射性能
样品要求:薄膜材料
联系电话:0931-4968055