理化性能测试

生产厂家:日本分光计器株式会社
购置日期:2006年 
原  值:36万元 
主要指标:U-300-250-390nm,L-37-390-680nm,R-64-680-1200nm 大于等于1nm
用  途:发射不同波段的单色光,测试各种半导体表面的光电流、光电压
样品要求:固体
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